在开发和设计电子设备时，需要对安装在其中的电子元件进行测试，以确定其是否具有符合其安装环境和使用条件的可靠性。该测试确保了该设备在投放市场后能够达到目标质量。CME提供的可靠性测试解决方案包括:冲击测试、振动测试、包装测试、6自由度运动模拟测试、气候测试和离心加速度测试。
Wistron México 采用科瑞迪KRD11-400气动垂直冲击试验台
为电子制造与服务器设备提供高可靠性冲击验证
Vishay Sprague, Inc. 采用科瑞迪 KRD30-4M离心式恒加速度试验机（箱式）
为高可靠性钽电容器提供精准寿命与结构强度验证
实现芯片封装应变测试的高精度验证与稳定重复性测试
University lab in Indonesia在为印尼矿业、重型机械及电子零部件客户提供检测服务时，面临三大瓶颈: 低频推力不足、负载能力受限、标准覆盖单一。
为电子产品与元器件提供高可靠性冲击验证
客户： Cal-Comp Electronics (Thailand) PCL（CCET）
行业： 电子制造服务（EMS）/ 消费电子与计算机外设
应用： 电子产品、PCBA、半导体封装及结构件冲击可靠性测试
设备型号： KRD11-100A 气动垂直冲击试验台
通过对离心机加速度方向、加速度值、速度纹波、加速度梯度等基本参数特征的分析，获得了离心机设计、使用和测量的有效方法。
离心恒加速度试验机目前有两种常见类型，一种为转盘式，适用于电子元件及微电子器件的恒加速度试验；一种为转臂式，适用于电工电子产品部件及小型整机的恒加速度试验。
